Show simple item record

dc.contributor.authorLehtinen, Jani
dc.date.accessioned2023-11-05T22:36:22Z
dc.date.available2023-11-05T22:36:22Z
dc.date.issued1999
dc.identifier.urihttps://jyx.jyu.fi/handle/123456789/91768
dc.format.extent80 lehteä
dc.language.isofi
dc.titleElektroniikan tuotantotestausjärjestelmien kartoitus
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:jyu-202311067783
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradufi
dc.contributor.laitosFysiikan laitos
dc.contributor.yliopistoUniversity of Jyväskyläen
dc.contributor.yliopistoJyväskylän yliopistofi
dc.rights.copyrightThis publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.en
dc.rights.copyrightJulkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.fi
dc.rights.accesslevelrestrictedAccessfi
dc.contributor.oppiainekoodi4022
dc.rights.accessrightsThis material has a restricted access due to copyright reasons. It can be read at the workstation at Jyväskylä University Library reserved for the use of archival materials: https://kirjasto.jyu.fi/collections/archival-workstation.en
dc.rights.accessrightsAineistoon pääsyä on rajoitettu tekijänoikeussyistä. Aineisto on luettavissa Jyväskylän yliopiston kirjaston arkistotyöasemalta. Ks. https://kirjasto.jyu.fi/kokoelmat/arkistotyoasema.fi


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record