Elektroniikan tuotantotestausjärjestelmien kartoitus
Tekijät
Päivämäärä
1999Pääsyrajoitukset
Aineistoon pääsyä on rajoitettu tekijänoikeussyistä. Aineisto on luettavissa Jyväskylän yliopiston kirjaston arkistotyöasemalta. Ks. https://kirjasto.jyu.fi/kokoelmat/arkistotyoasema.
Tekijänoikeudet
Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.
Samankaltainen aineisto
Näytetään aineistoja, joilla on samankaltainen nimeke tai asiasanat.
-
Kartoitus lukiolaisten Newtonin kolmannen lain osaamisesta voimavektoreiden avulla
Ranta-Kuivila, Reetta (2013)Newtonin kolmas laki on eri tutkimuksissa koettu olevan oppilaille ja opiskelijoille haasteellinen. Tällä tutkimuksella on haluttu kartoittaa lukiolaisten osaamista tämänhetkisessä tilanteessa Newtonin kolmannen lain osalta ... -
Kartoitus mittareista osaksi Scrum-tiimin ohjelmistokehitystä
Merisalo, Mikko (2020)Ohjelmistokehityksessä, kuten yleisesti liiketoiminnassa, on hyödyllistä käyttää mittareita toiminnan tukena. Ohjelmistokehityksessä käytetään nykyisin varsin usein niin sanottuja ketteriä ohjelmistokehitysmenetelmiä, ... -
Aiemmin hankitun osaamisen tunnistaminen ja tunnustaminen (AHOT) : nykykäytäntöjen kartoitus ja kehittämisen linjat Jyväskylän yliopiston avoimen yliopiston opinnoissa
Harvisalo, Sisko (Jyväskylän yliopisto, Avoin yliopisto, 2008) -
Hobbesin sanaston onnistunut kartoitus
Jakonen, Mikko (Eurooppalaisen filosofian seura ry, 2012) -
Nykykirjallisuutemme kirjallisuushistoriallinen kartoitus
Helle, Anna (Kirjallisuudentutkijain Seura, 2014)
Ellei toisin mainittu, julkisesti saatavilla olevia JYX-metatietoja (poislukien tiivistelmät) saa vapaasti uudelleenkäyttää CC0-lisenssillä.