On the Construction of Lusternik-Schnirelmann Critical Values with Application to Bifurcation Problems
Nečas, J., Lehtonen, A. & Neittaanmäki, P. (1987). On the Construction of Lusternik-Schnirelmann Critical Values with Application to Bifurcation Problems. Applicable Analysis, 25 (4), 253-268. doi:10.1080/00036818708839689
Julkaistu sarjassa
Applicable AnalysisPäivämäärä
1987An iterative method to construct Lusternik-Schnirelmann critical values is presented. Examples of its use to obtain numerical solutions to nonlinear eigenvalue problems and their bifurcation branches are given.
Julkaisija
Taylor & FrancisISSN Hae Julkaisufoorumista
0003-6811Metadata
Näytä kaikki kuvailutiedotKokoelmat
Samankaltainen aineisto
Näytetään aineistoja, joilla on samankaltainen nimeke tai asiasanat.
-
On the construction of Luster-Schnirelmann critical values with application to bifurcation problems
Nečas, Jindrich; Lehtonen, Ari; Neittaanmäki, Pekka (Taylor & Francis, 1987)An iterative method to construct Lusternik-Schnirelmann critical values is presented. Examples of its use to obtain numerical solutions to nonlinear eigenvalue problems and their bifurcation branches are given. -
Mathematical foundations of the eigenvalue problem in quantum mechanics
Löytäinen, Topi (2016)Työssä tarkastellaan kvanttiteorian ominaisarvo-ongelman matemaattisia perusteita asettamalla vaatimuksia Hilbertin avaruudelle. Työ seuraa läheisesti John von Neumannin käsittelyä kirjassa ’’Mathematical Foundations of ... -
Bifurcation method of stability analysis and some applications
Banichuk, Nikolay; Barsuk, Alexander; Neittaanmäki, Pekka; Jeronen, Juha; Tuovinen, Tero (Jyväskylän yliopisto, 2014)In this paper a new approach to the analysis of implicitly given function- als is developed in the frame of elastic stability theory. The approach gives an effective procedure to analyse stability behaviour, and to ... -
Well-posed nonlinear problems in integrated circuits modeling
Morosanu, Gheorghe; Marinov, Corneliu A.; Neittaanmäki, Pekka (Birkhäuser, 1991)In this paper we study the problem (E) + (BC) + (IC) (see below) which represents a model for integrated circuits. We assume that the distributed parametersr(x) andc(x) are nonconstant, dielectric leakages depend on ...
Ellei toisin mainittu, julkisesti saatavilla olevia JYX-metatietoja (poislukien tiivistelmät) saa vapaasti uudelleenkäyttää CC0-lisenssillä.