Näytä suppeat kuvailutiedot

dc.contributor.authorKoppinen, Panu
dc.date.accessioned2008-01-08T07:49:41Z
dc.date.available2008-01-08T07:49:41Z
dc.date.issued2003
dc.identifier.otheroai:jykdok.linneanet.fi:897782
dc.identifier.urihttps://jyx.jyu.fi/handle/123456789/8190
dc.format.extent75 lehteä.
dc.language.isoeng
dc.rightsThis publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.en
dc.rightsJulkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.fi
dc.subject.othertunnel junction
dc.subject.othertunneling
dc.subject.othertunneling current
dc.subject.otherelectron tunneling
dc.subject.othertemperature dependence
dc.subject.otherbias voltage dependence
dc.titleBias and temperature dependence analysis of the tunneling current of normal metal-insulator-normal metal tunnel junctions
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:jyu-2003897782
dc.type.dcmitypeTexten
dc.type.ontasotPro gradufi
dc.type.ontasotMaster’s thesisen
dc.contributor.tiedekuntaMatemaattis-luonnontieteellinen tiedekuntafi
dc.contributor.tiedekuntaFaculty of Sciencesen
dc.contributor.laitosFysiikan laitosfi
dc.contributor.laitosDepartment of Physicsen
dc.contributor.yliopistoUniversity of Jyväskyläen
dc.contributor.yliopistoJyväskylän yliopistofi
dc.rights.accesslevelopenAccessfi
dc.contributor.oppiainekoodi402


Aineistoon kuuluvat tiedostot

Thumbnail

Aineisto kuuluu seuraaviin kokoelmiin

Näytä suppeat kuvailutiedot