Show simple item record

dc.contributor.authorKäyhkö, Marko
dc.date.accessioned2013-12-19T10:54:46Z
dc.date.available2013-12-19T10:54:46Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.otheroai:jykdok.linneanet.fi:1290517
dc.identifier.urihttps://jyx.jyu.fi/handle/123456789/42703
dc.description.abstractTässä tutkielmassa tavoitteena oli analysoida ohutkalvoja hiukkasherätteisellä röntgen-emissiolla (PIXE) käyttäen apuna takaisinsirontaa. Erityisesti tavoitteena oli selvittää pystytäänkö PIXEllä saamaan lisätietoa tilanteissa, joissa pelkän takaisinsironnan avulla ei saada tarkkaa tietoa. Tähän tarkoitukseen tutkittiin kahta eri tapausta: lähekkäisten alkuaineiden suhteen määritys ja pienten epäpuhtauksien määritys. Lähekkäisten alkuaineiden analysoinnissa käytettiin GeCu-näytettä. Täs- sä tapauksessa 1,5 MeV:n takaisinsirontaspektristä ei pystytty erottamaan germaniumin ja kuparin piikkejä, mutta se pystyttiin tekemään 3,0 MeV:n energialla. PIXE-mittauksissa germaniumin ja kuparin piikit pystyttiin erottamaan erittäin selkeästi ja lisäksi pystyttiin havaitsemaan ja tunnista- maan rautaepäpuhtaus, jota ei pystytty havaitsemaan takaisinsironnan avulla. Toisaalta germaniu- min ja kuparin suhteen määritys onnistui paremmin käyttäen takaisinsirontaa. Takaisinsironnan ja PIXEn havaitsemiskynnyksiä laskettiin teoreettisesti tutkimuksessa käytetyille mittauslaitteistoille. Havaittiin, että PIXEn avulla saadaan noin kymmenen kertaa parempi havaitsemiskynnys alkuai- neille 20 < Z < 40. PIXElle saatu havaitsemiskynnys kyseisellä välillä oli (0,01-0,02)*1e15 atomia/cm2 ja takaisinsironnalle se oli (10-1)*1e15 atomia/cm2 .fi
dc.format.extent1 verkkoaineisto (68 sivua)
dc.language.isofin
dc.rightsThis publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.en
dc.rightsJulkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.fi
dc.subject.otherPIXE
dc.subject.otherHiukkasherätteinen röntgen-emissio
dc.subject.otherRBS
dc.subject.othertakaisinsironta
dc.subject.otherSEM-EDS
dc.subject.otherohutkalvo
dc.titleHiukkasherätteinen röntgen-emissio ohutkalvojen analysoinnissa
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:jyu-201312192849
dc.type.dcmitypeTexten
dc.type.ontasotPro gradufi
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.contributor.tiedekuntaMatemaattis-luonnontieteellinen tiedekuntafi
dc.contributor.tiedekuntaFaculty of Sciencesen
dc.contributor.laitosFysiikan laitosfi
dc.contributor.laitosDepartment of Physicsen
dc.contributor.yliopistoUniversity of Jyväskyläen
dc.contributor.yliopistoJyväskylän yliopistofi
dc.contributor.oppiaineFysiikkafi
dc.contributor.oppiainePhysicsen
dc.date.updated2013-12-19T10:54:46Z
dc.rights.accesslevelopenAccessfi
dc.contributor.oppiainekoodi4021
dc.subject.ysosironta
dc.subject.ysoohutkalvot
dc.subject.ysoemissio


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record