Käytännöllinen tarkkuusmenetelmä gammasäteilyn energioiden ja intensiteettien mittaamiseksi puolijohdeilmaisinta käyttäen

dc.contributor.author	Komppa, Tuomo
dc.date.accessioned	2023-11-05T19:22:38Z
dc.date.available	2023-11-05T19:22:38Z
dc.date.issued	1967
dc.identifier.uri	https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/91665
dc.format.extent	107 lehteä
dc.language.iso	fi
dc.title	Käytännöllinen tarkkuusmenetelmä gammasäteilyn energioiden ja intensiteettien mittaamiseksi puolijohdeilmaisinta käyttäen
dc.identifier.urn	URN:NBN:fi:jyu-202311057680
dc.type.ontasot	Master's thesis	en
dc.type.ontasot	Pro gradu	fi
dc.contributor.laitos	Fysiikan laitos
dc.contributor.yliopisto	University of Jyväskylä	en
dc.contributor.yliopisto	Jyväskylän yliopisto	fi
dc.rights.copyright	Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.	fi
dc.rights.copyright	This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.	en
dc.rights.accesslevel	restrictedAccess	fi
dc.rights.accessrights	This material has a restricted access due to copyright reasons. It can be read at the workstation at Jyväskylä University Library reserved for the use of archival materials: https://kirjasto.jyu.fi/collections/archival-workstation.	en
dc.rights.accessrights	Aineistoon pääsyä on rajoitettu tekijänoikeussyistä. Aineisto on luettavissa Jyväskylän yliopiston kirjaston arkistotyöasemalta. Ks. https://kirjasto.jyu.fi/kokoelmat/arkistotyoasema.	fi

Samankaltainen aineisto