Show simple item record

dc.contributor.advisorHerranen, Olli
dc.contributor.advisorToppari, Jussi
dc.contributor.authorHonkanen, Kasper
dc.date.accessioned2019-07-11T09:33:16Z
dc.date.available2019-07-11T09:33:16Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.urihttps://jyx.jyu.fi/handle/123456789/65032
dc.description.abstractTässä tutkielmassa esitellään optisten pinnoitteiden ominaisuuksia sekä valmistusmenetelmiä, joihin lukeutuvat yleiset optiikan valmistukseen käytetyt pinnoitusteknologiat sekä optisen monitoroinnin periaatteet. Kokeellisessa osassa suunniteltiin neljä erilaista optista suodinpinnoitetta. Suunnitellut pinnoitteet valmistettiin käyttäen tyhjiöhöyrystystekniikkaa ja optista kerrospaksuusmonitorointia. Tutkielman tavoitteena oli tutustua optiseen monitorointiin ja testata teollisen tyhjiöhöyrystyslaitteiston sekä suoran transmittanssimonitoroinnin tuotantokykyä. Suodintyypit olivat Braggin peili, lyhytpäästö- ja pitkäpäästösuotimet, sekä absorptiotyypin kapeakaistapäästösuodin. Pinnoitteiden suunnitteluprosessit esitellään kokonaisuudessaan rakenteen muodostamisesta monitorointistrategian laatimiseen. Tuloksia analysoidaan ja mahdollisia keinoja pinnoitteiden parantamiseksi käsitellään lyhyesti.fi
dc.description.abstractOptical coatings are employed in various academic and industrial applications to modify or enhance optical properties of materials and components. Therefore optical coatings have a long history of research and development, which is still advancing. For this thesis optical filter design and fabrication methods utilizing vacuum evaporation and optical monitoring were studied. The objective was to test and improve production capabilities of an industrial electron beam evaporation system using direct transmittance measurement for layer thickness monitoring. Four distinct optical coatings of differing complexity were designed and fabricated. The coating types were a Bragg mirror, a short wavelength pass edge filter, a long wavelength pass edge filter and a narrow bandpass absorption filter. Design processes for the filters are shown including their structure and the development of the monitoring strategy. The results are analysed and possible optimization solutions are shortly discussed.en
dc.format.extent107
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoen
dc.rightsIn Copyrighten
dc.subject.otheroptical monitoring
dc.subject.otheroptical coating
dc.subject.otheroptical filter
dc.subject.otheroptinen pinnoitus
dc.subject.otheroptinen suodin
dc.titleOptical monitoring in fabrication of optical coatings
dc.typemaster thesis
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:jyu-201907113615
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.ontasotMaster’s thesisen
dc.contributor.tiedekuntaMatemaattis-luonnontieteellinen tiedekuntafi
dc.contributor.tiedekuntaFaculty of Sciencesen
dc.contributor.laitosFysiikan laitosfi
dc.contributor.laitosDepartment of Physicsen
dc.contributor.yliopistoJyväskylän yliopistofi
dc.contributor.yliopistoUniversity of Jyväskyläen
dc.contributor.oppiaineSoveltava fysiikkafi
dc.contributor.oppiaineApplied Physicsen
dc.type.coarhttp://purl.org/coar/resource_type/c_bdcc
dc.rights.accesslevelopenAccess
dc.type.publicationmasterThesis
dc.contributor.oppiainekoodi4023
dc.subject.ysomonitorointi
dc.subject.ysooptiikka
dc.subject.ysomonitoring
dc.subject.ysooptics
dc.format.contentfulltext
dc.rights.urlhttps://rightsstatements.org/page/InC/1.0/
dc.type.okmG2


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

In Copyright
Except where otherwise noted, this item's license is described as In Copyright