Hiukkasherätteinen röntgen-emissio ohutkalvojen analysoinnissa
Tässä tutkielmassa tavoitteena oli analysoida ohutkalvoja hiukkasherätteisellä röntgen-emissiolla
(PIXE) käyttäen apuna takaisinsirontaa. Erityisesti tavoitteena oli selvittää pystytäänkö PIXEllä
saamaan lisätietoa tilanteissa, joissa pelkän takaisinsironnan avulla ei saada tarkkaa tietoa. Tähän
tarkoitukseen tutkittiin kahta eri tapausta: lähekkäisten alkuaineiden suhteen määritys ja pienten
epäpuhtauksien määritys. Lähekkäisten alkuaineiden analysoinnissa käytettiin GeCu-näytettä. Täs-
sä tapauksessa 1,5 MeV:n takaisinsirontaspektristä ei pystytty erottamaan germaniumin ja kuparin
piikkejä, mutta se pystyttiin tekemään 3,0 MeV:n energialla. PIXE-mittauksissa germaniumin ja
kuparin piikit pystyttiin erottamaan erittäin selkeästi ja lisäksi pystyttiin havaitsemaan ja tunnista-
maan rautaepäpuhtaus, jota ei pystytty havaitsemaan takaisinsironnan avulla. Toisaalta germaniu-
min ja kuparin suhteen määritys onnistui paremmin käyttäen takaisinsirontaa. Takaisinsironnan ja
PIXEn havaitsemiskynnyksiä laskettiin teoreettisesti tutkimuksessa käytetyille mittauslaitteistoille.
Havaittiin, että PIXEn avulla saadaan noin kymmenen kertaa parempi havaitsemiskynnys alkuai-
neille 20 < Z < 40. PIXElle saatu havaitsemiskynnys kyseisellä välillä oli (0,01-0,02)*1e15 atomia/cm2
ja takaisinsironnalle se oli (10-1)*1e15 atomia/cm2 .
...
Asiasanat
Metadata
Näytä kaikki kuvailutiedotKokoelmat
- Pro gradu -tutkielmat [29060]
Samankaltainen aineisto
Näytetään aineistoja, joilla on samankaltainen nimeke tai asiasanat.
-
Monte Carlo -simulaatioiden käyttö rekyylispektrometrimittausten analysoinnissa
Heiskanen, Jouni (2010) -
Instrumentation for time-of-flight elastic recoil detection analysis
Julin, Jaakko (University of Jyväskylä, 2016)Time-of-flight elastic recoil detection is an ion beam based method to analyze the elemental composition of thin film samples at different depths. In order to improve the mass resolution and to enable kinematic correction ... -
Interaction between surface plasmon polaritons and molecules in strong coupling limit
Baieva, Svitlana (University of Jyväskylä, 2016)Miniaturization of optical elements and their integration to electronic circuits is limited by diffraction limit. It was realized that light being coupled to surface plasmons (SP) can overcome this limit. Employing also ... -
Preparation of potentially porous, chiral organometallic materials through spontaneous resolution of pincer palladium conformers
Johnson, Magnus T.; Dzolic, Zoran; Cetina, Mario; Lahtinen, Manu; Ahlquist, Mårten S. G.; Rissanen, Kari; Öhrström, Lars; Wendt, Ola F. (Royal Society of Chemistry, 2013)Understanding the mechanism by which advanced materials assemble is essential for the design of new materials with desired properties. Here, we report a method to form chiral, potentially porous materials through spontaneous ... -
Takaisinmallinnus keinona haittaohjelmien analysoinnissa
Vainio, Laura (2022)Tässä tutkielmassa käsitellään takaisinmallinnusta ja sen hyödyntämistä haittaohjelmien analysoinnissa. Haittaohjelmat ovat hyvin yleisiä ja takaisinmallinnus vastaavasti tunnettu keino analysoida niitä. Tavoitteena on ...
Ellei toisin mainittu, julkisesti saatavilla olevia JYX-metatietoja (poislukien tiivistelmät) saa vapaasti uudelleenkäyttää CC0-lisenssillä.