Show simple item record

dc.contributor.authorMiettinen, Lasse
dc.date.accessioned2024-10-20T20:38:58Z
dc.date.available2024-10-20T20:38:58Z
dc.date.issued2001
dc.identifier.urihttps://jyx.jyu.fi/handle/123456789/97527
dc.format.extent48 lehteä : kuvitettu
dc.language.isofi
dc.titleSACRED-elekronispektrometri in-beam mittauksissa
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:jyu-202410206389
dc.type.ontasotPro gradufi
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.contributor.laitosFysiikan laitos
dc.contributor.yliopistoUniversity of Jyväskyläen
dc.contributor.yliopistoJyväskylän yliopistofi
dc.rights.copyrightJulkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.fi
dc.rights.copyrightThis publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.en
dc.rights.accesslevelrestrictedAccessfi
dc.contributor.oppiainekoodi402
dc.rights.accessrightsAineistoon pääsyä on rajoitettu tekijänoikeussyistä. Aineisto on luettavissa Jyväskylän yliopiston kirjaston arkistotyöasemalta. Ks. https://kirjasto.jyu.fi/kokoelmat/arkistotyoasema.fi
dc.rights.accessrightsThis material has a restricted access due to copyright reasons. It can be read at the workstation at Jyväskylä University Library reserved for the use of archival materials: https://kirjasto.jyu.fi/collections/archival-workstation.en


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record