Näytä suppeat kuvailutiedot

dc.contributor.authorLassila, Riku
dc.date.accessioned2023-11-05T22:34:57Z
dc.date.available2023-11-05T22:34:57Z
dc.date.issued2000
dc.identifier.urihttps://jyx.jyu.fi/handle/123456789/91765
dc.format.extent60 lehteä
dc.language.isofi
dc.titleAutomaattisen mittausympäristön suunnittelu testipuhelimille ja IC-piireille
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:jyu-202311067780
dc.type.ontasotPro gradufi
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.contributor.laitosFysiikan laitos
dc.contributor.yliopistoUniversity of Jyväskyläen
dc.contributor.yliopistoJyväskylän yliopistofi
dc.rights.copyrightJulkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.fi
dc.rights.copyrightThis publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.en
dc.rights.accesslevelrestrictedAccessfi
dc.contributor.oppiainekoodi402
dc.subject.ysopuhelinlaitteet
dc.subject.ysotestaus
dc.subject.ysomittaus
dc.subject.ysomikropiirit
dc.subject.ysoautomaatio
dc.subject.ysokäyttöliittymät
jyx.subject.urihttp://www.yso.fi/onto/yso/p11477
jyx.subject.urihttp://www.yso.fi/onto/yso/p4794
jyx.subject.urihttp://www.yso.fi/onto/yso/p12068
jyx.subject.urihttp://www.yso.fi/onto/yso/p1295
jyx.subject.urihttp://www.yso.fi/onto/yso/p7091
jyx.subject.urihttp://www.yso.fi/onto/yso/p8471
dc.rights.accessrightsAineistoon pääsyä on rajoitettu tekijänoikeussyistä. Aineisto on luettavissa Jyväskylän yliopiston kirjaston arkistotyöasemalta. Ks. https://kirjasto.jyu.fi/kokoelmat/arkistotyoasema.fi
dc.rights.accessrightsThis material has a restricted access due to copyright reasons. It can be read at the workstation at Jyväskylä University Library reserved for the use of archival materials: https://kirjasto.jyu.fi/collections/archival-workstation.en


Aineistoon kuuluvat tiedostot

Thumbnail

Aineisto kuuluu seuraaviin kokoelmiin

Näytä suppeat kuvailutiedot