Development and use of computational tools for modelling negative hydrogen ion source extraction systems

Kalvas, Taneli

dc.contributor.author	Kalvas, Taneli
dc.date.accessioned	2014-02-13T11:06:19Z
dc.date.available	2014-02-13T11:06:19Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.isbn	978-951-39-5421-5
dc.identifier.other	oai:jykdok.linneanet.fi:1308445
dc.identifier.uri	https://jyx.jyu.fi/handle/123456789/42949
dc.format.extent	Verkkoaineisto 159 sivua
dc.language.iso	eng
dc.publisher	University of Jyväskylä
dc.relation.ispartofseries	Research report / Department of Physics, University of Jyväskylä
dc.subject.other	computer modelling
dc.subject.other	beam formation
dc.subject.other	ion extraction
dc.subject.other	negative hydrogen ion
dc.subject.other	ion source
dc.subject.other	ion optics
dc.subject.other	beam transport
dc.title	Development and use of computational tools for modelling negative hydrogen ion source extraction systems
dc.type	Diss.
dc.identifier.urn	URN:ISBN:978-951-39-5421-5
dc.type.dcmitype	Text	en
dc.type.ontasot	Väitöskirja	fi
dc.type.ontasot	Doctoral dissertation	en
dc.contributor.tiedekunta	Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta	fi
dc.contributor.tiedekunta	Faculty of Mathematics and Science	en
dc.contributor.yliopisto	University of Jyväskylä	en
dc.contributor.yliopisto	Jyväskylän yliopisto	fi
dc.contributor.oppiaine	Fysiikka	fi
dc.relation.issn	0075-465X
dc.relation.numberinseries	no. 10/2013
dc.rights.accesslevel	openAccess	fi
dc.subject.yso	mallintaminen
dc.subject.yso	tietokoneet
dc.subject.yso	ionisoiva säteily
dc.subject.yso	ionit
dc.subject.yso	säteilyfysiikka
dc.subject.yso	säteilylaitteet
dc.subject.yso	hiukkaskiihdyttimet
dc.subject.yso	vety

Aineistoon kuuluvat tiedostot

Nimi:: 978-951-39-5421-5_vaitos051220 ...
Koko:: 7.736Mb
Tiedostomuoto:: PDF

Katso/Avaa

Aineisto kuuluu seuraaviin kokoelmiin

Väitöskirjat [3433]

Näytä suppeat kuvailutiedot

Development and use of computational tools for modelling negative hydrogen ion source extraction systems

Aineistoon kuuluvat tiedostot

Aineisto kuuluu seuraaviin kokoelmiin

Samankaltainen aineisto

Robustness of radiation beam profile measurements ﻿

Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies : Numerical Method for RPP Parameter Extraction ﻿

The pion single-event latch-up cross-section enhancement : mechanisms and consequences for accelerator hardness assurance ﻿

Current Transport Mechanism for Heavy-Ion Degraded SiC MOSFETs ﻿

Dosimetry study in an X-ray irradiator : Monte Carlo simulations and experimental results on radio-photoluminescence samples ﻿

Robustness of radiation beam profile measurements

Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies : Numerical Method for RPP Parameter Extraction

The pion single-event latch-up cross-section enhancement : mechanisms and consequences for accelerator hardness assurance

Current Transport Mechanism for Heavy-Ion Degraded SiC MOSFETs

Dosimetry study in an X-ray irradiator : Monte Carlo simulations and experimental results on radio-photoluminescence samples