Hiilen taustavaikutukset muovien lisäaineille induktiivisesti kytketyssä plasmassa

Tässä tutkielmassa tarkasteltiin hiilen matriisivaikutuksia induktiivisesti kytkettyä plasmaa (ICP) hyödyntävissä analyysimenetelmissä. Kirjallisessa osassa on tarkasteltu erilaisia kiinteiden näytteiden esikäsittelymenetelmiä kiinnittäen huomiota jäännöshiilimääriin. Lisäksi läpi käydään ICP-tekniikoiden teoriaa, laitteistoa ja häiriöitä, painotuksen ollessa hiilen aiheuttamissa ongelmatekijöissä. Kokeellisessa osassa tutkittiin onko hiilellä merkittäviä vaikutuksia muovien hivenaineille (As, Cd, Cr, Pb, Sb, Sn, Zn, S) sellaisissa pitoisuuksissa, joita jäännöshiilipitoisuudelta voidaan odottaa kiinteiden näytteiden esikäsittelyn jälkeen. Jäljitellen sertifioituja muovimateriaaleja valmistettiin synteettiset näytteet, jotka sisälsivät eriäviä määriä hiilitaustaa. Hiilitaustaisille näytteille etsittiin optimaaliset mittausolosuhteet induktiivisesti kytketty plasma optinen emissio spektroskopialla (ICP-OES), ja näitä olosuhteita hyödynnettiin sertifioitujen vertailumateriaalien tarkasteluun. Hiilitaustaisia näytteitä mitattiin sekä ICP-OES:llä että induktiivisesti kytketty plasma massaspektrometrialla (ICP-MS). Lisäksi ICP-OES:llä tarkasteltiin mahdollisia hiilen ja helposti ionisoituvien alkuaineiden (EIE) yhteisvaikutuksia. Tuloksista havaittiin, ettei hiilellä ole merkittäviä vaikutuksia kyseisten alkuaineiden mittaamiseen näissä plasmoissa ja jäännöshiilitasoa vastaavissa hiilipitoisuuksissa. Tinan emission havaittiin putoavan 50 % käytettäessä 5000 mg/l hiilitaustaa sekä 200 mg/l EIE taustaa ICP-OES:llä. Tulosten perusteella tarkasteltujen analyyttien analysointi voidaan tehdä luotettavasti käytettyä menetelmää hyödyntäen.