Energy loss and straggling of MeV Si ions in gases
Vockenhuber, C., Arstila, K., Jensen, J., Julin, J., Kettunen, H., Laitinen, M., Rossi, M., Sajavaara, T., Thöni, M., & Whitlow, H. J. (2017). Energy loss and straggling of MeV Si ions in gases. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 391, 20-26. https://doi.org/10.1016/j.nimb.2016.11.030
Julkaistu sarjassa
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and AtomsTekijät
Päivämäärä
2017Tekijänoikeudet
© 2016 Elsevier B.V. This is a final draft version of an article whose final and definitive form has been published by Elsevier. Published in this repository with the kind permission of the publisher.
We present measurements of energy loss and straggling of Si ions in gases. An energy range from 0.5 to 12 MeV/u was covered using the 6 MV EN tandem accelerator at ETH Zurich, Switzerland, and the K130 cyclotron accelerator facility at the University of Jyväskylä, Finland. Our energy-loss data compare well with calculation based on the SRIM and PASS code. The new straggling measurements support a pronounced peak in He gas at around 4 MeV/u predicted by recent theoretical calculations. The straggling curve structure in the other gases (N2, Ne, Ar, Kr) is relatively flat in the covered energy range. Although there is a general agreement between the straggling data and the theoretical calculations, the experimental uncertainties are too large to confirm or exclude the predicted weak multi-peak structure in the energy-loss straggling.
Julkaisija
Elsevier BVISSN Hae Julkaisufoorumista
0168-583XAsiasanat
Julkaisu tutkimustietojärjestelmässä
https://converis.jyu.fi/converis/portal/detail/Publication/26358760
Metadata
Näytä kaikki kuvailutiedotKokoelmat
Samankaltainen aineisto
Näytetään aineistoja, joilla on samankaltainen nimeke tai asiasanat.
-
Energy-loss straggling of 2–10 MeV/u Kr ions in gases
Vockenhuber, Christof; Jensen, Jens; Julin, Jaakko; Kettunen, Heikki; Laitinen, Mikko; Rossi, Mikko; Sajavaara, Timo; Osmani, Orkhan; Schinner, Andreas; Sigmund, Peter; Whitlow, Harry (Springer, 2013)Measurements have been performed on a time-of-flight setup at the Jyv¨askyl¨a K130 cyclotron, aiming at energy-loss straggling of heavy ions in gases. Theoretical predictions based on recently developed theory as well ... -
Chemically Selective Imaging of Individual Bonds through Scanning Electron Energy-Loss Spectroscopy : Disulfide Bridges Linking Gold Nanoclusters
Sokołowska, Karolina; Luan, Zhongyue; Hulkko, Eero; Rameshan, Christoph; Barrabés, Noelia; Apkarian, Vartkess A.; Lahtinen, Tanja (American Chemical Society, 2020)As proof-of-principle of chemically selective, spatially resolved imaging of individual bonds, we carry out electron energy-loss spectroscopy in a scanning transmission electron microscopy instrument on atomically precise, ... -
"Where not two places are the same" : representations of the USA as a destination country for high school exchange students
Tanskanen, Essi (2019)Tämän kandidaatintutkielman tarkoitus on tutkia, millaisia representaatioita Yhdysvalloista vaihtokohdemaana rakennetaan lukioikäisille vaihto-oppilaille. Aikaisempi tutkimus on keskittynyt tutkimaan diskursseja vaihto-opiskelun ... -
Exchange period as a motivating factor in business students' ideal L2 self development - or not?
Hallila, Hanna (2017)Vaikka motivaatio englannin oppimisessa on vuosikymmeniä ollut yksi soveltavan kielitieteen keskeisimpiä tutkimuskohteita, on mahdollisia muutoksia opiskelijoiden motivaatiossa vaihto-opiskelun aikana ja vaikutuksia ... -
The equivalent photon approximation in one- and two-photon exchange processes
Yrjänheikki, Sami (2022)Tässä opinnäytetyössä johdetaan ekvivalentti fotoniapproksimaatio ja siihen liittyvä ekvivalentti fotonijakauma yhden ja kahden fotonivaihdon prosesseissa helisiteettipohjaista menetelmää käyttäen kvanttikenttäteorian ...
Ellei toisin mainittu, julkisesti saatavilla olevia JYX-metatietoja (poislukien tiivistelmät) saa vapaasti uudelleenkäyttää CC0-lisenssillä.