Bias and temperature dependence analysis of the tunneling current of normal metal-insulator-normal metal tunnel junctions

DSpace/Manakin Repository

Show simple item record

dc.contributor.author Koppinen, Panu
dc.date.accessioned 2008-01-08T07:49:41Z
dc.date.available 2008-01-08T07:49:41Z
dc.date.issued 2003
dc.identifier.uri http://urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-2003897782
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/123456789/8190
dc.language.iso eng
dc.rights This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited. en
dc.rights Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty. fi
dc.subject.other tunnel junction
dc.subject.other tunneling
dc.subject.other tunneling current
dc.subject.other electron tunneling
dc.subject.other temperature dependence
dc.subject.other bias voltage dependence
dc.title Bias and temperature dependence analysis of the tunneling current of normal metal-insulator-normal metal tunnel junctions
dc.type Book en
dc.identifier.urn URN:NBN:fi:jyu-2003897782
dc.type.dcmitype Text en
dc.type.ontasot Pro gradu fi
dc.type.ontasot Master’s thesis en
dc.contributor.tiedekunta Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta fi
dc.contributor.tiedekunta Faculty of Mathematics and Science en
dc.contributor.laitos Fysiikan laitos fi
dc.contributor.laitos Department of Physics en
dc.contributor.yliopisto University of Jyväskylä en
dc.contributor.yliopisto Jyväskylän yliopisto fi

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record